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　　SIKORA公司研發(fā)出一套新式系統(tǒng)，選用X射線及光學(xué)技能相結(jié)合的方法，可對(duì)聚合物材料進(jìn)行100%的檢查，檢查到的雜質(zhì)將被主動(dòng)除掉。

　　該檢查原理適用于TPE及其它不一樣材料，在通?；顒?dòng)速率下，可檢查小到50µm的雜質(zhì)或異物，使金屬、有機(jī)污染物和異物的檢查和別離得以完成。

金屬聚合物材料

　　此外，該系統(tǒng)還可檢測(cè)添加劑的分布，尤其是對(duì)于復(fù)合材料生產(chǎn)過(guò)程，由此避免了后續(xù)的添加劑結(jié)塊及混合不均勻的產(chǎn)生。

　　據(jù)悉，通過(guò)采用X射線檢測(cè)技術(shù)，可對(duì)透明及不透明的塑料顆粒進(jìn)行雜質(zhì)檢測(cè)。其基本原理是X射線對(duì)原材料與雜質(zhì)(或異物)，有不同的衰減率。

　　X射線的衰減率(µ)主要取決于元素的原子量，并與原子序數(shù)的三次方成比例(µ~Z3)。塑料制品主要由碳構(gòu)成(Z=6)，因此衰減率很低。

　　鐵雜質(zhì)的衰減率相對(duì)較強(qiáng)(Z=26)，可被清晰地檢測(cè)到并剔除。二氧化鈦團(tuán)塊與周圍材料的散布形成顯著的反差，這是因?yàn)樵诙趸佒锈?Z=22)與塑料的吸收率有很大的差別。

　　最后，通過(guò)特殊的處理和數(shù)學(xué)運(yùn)算模塊，雜質(zhì)或異物被識(shí)別并最終被剔除。

　　在光學(xué)檢測(cè)部分，光照的方式是至關(guān)重要的。該系統(tǒng)通過(guò)采用新穎的光學(xué)設(shè)計(jì)技術(shù)，為材料檢測(cè)提供了特殊的散射光，通過(guò)光學(xué)檢測(cè)單元可檢測(cè)到極小的雜質(zhì)，比如在熱降解材料中檢測(cè)有機(jī)雜質(zhì)。

　　為在工業(yè)生產(chǎn)速度下對(duì)材料流進(jìn)行精確的檢測(cè)，該系統(tǒng)還采用了先進(jìn)的成像技術(shù)，通過(guò)X射線和光學(xué)技術(shù)檢測(cè)到的雜質(zhì)，經(jīng)由性能強(qiáng)大的圖像處理軟件辨識(shí)，并最終被分離。

　　為避免外部污染物，該系統(tǒng)在掃描機(jī)分離系統(tǒng)中采用了密閉式的震動(dòng)坡道。

　　該設(shè)計(jì)確保了環(huán)境空氣中的污染物不會(huì)進(jìn)入到檢測(cè)區(qū)域中去，甚至可在系統(tǒng)內(nèi)部導(dǎo)入正壓，從而避免外部污染物進(jìn)入檢測(cè)系統(tǒng)內(nèi)部。該傳送系統(tǒng)采用了創(chuàng)新式的簡(jiǎn)易清潔設(shè)計(jì)理念。