在學(xué)習(xí)具體的測試算法之前，你應(yīng)該了解可能遇到的各種存儲器問題。在軟件工程師中一個普遍的誤解是，大部分的存儲器問題發(fā)生在芯片的內(nèi)部。盡管這類問題一度是一個主要的問題，但是它們在日益減少。存儲設(shè)備的制造商們對于每一個批量的芯片都進(jìn)行了各種產(chǎn)品后期測試。因此，即使某一個批量有問題，其中某個壞芯片進(jìn)人到你的系統(tǒng)的可能性是微乎其微的。

你可能遇到的一種類型的存儲芯片問題是災(zāi)難性的失效。這通常是在加工好之后芯片受到物理或者是電子損傷造成的。災(zāi)難性失效是少見的，通常影響芯片中的大部分。因?yàn)橐淮笃瑓^(qū)域受到影響，所以災(zāi)難性的失效當(dāng)然可以被合適的測試算法檢測到。

存儲器出問題比較普遍的原因是電路板故障。典型的電路板故障有：

（1）在處理器與存儲設(shè)備之間的連線問題

（2）無存儲器芯片

（3）存儲器芯片的不正確插人

 

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